大口径波长移相激光干涉仪-k8凯发国际

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大口径波长移相激光干涉仪

激光干涉仪采用相移技术准确表征被测表面的三维形貌,测量精度高达 0.06um 甚至更高,广泛用于平面光学元件高精度检测

产品描述

激光干涉仪采用相移技术准确表征被测表面的三维形貌,测量精度高达 0.06um 甚至更高,广泛用于平面光学元件高精度检测

产品特性

1. 准确测量大口径的光学元件的透射波前、反射波前。
2. 测量精度和测量重复性能媲美美国 zygo 和 4d 干涉仪。
3. 根据客户要求定制开发。

技术参数

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